Lanean...
Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Beste egile batzuk: | , |
| Formatua: | Printed Book |
| Hizkuntza: | English |
| Argitaratua: |
Germany
Wiley-VCH
2014
|
| Gaiak: |
UL
| Sailkapena: |
535.241 SER |
|---|---|
| Alea | Egoera zuzenean ez dago erabilgarri |