טוען...
Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications
| מחבר ראשי: | Servin, Manuel |
|---|---|
| מחברים אחרים: | Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J |
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Germany
Wiley-VCH
2014
|
| נושאים: |
פריטים דומים
-
Interferoram analysis for optical testing
מאת: Malacara, Daniel
יצא לאור: (1998) -
Interferogram analysis for optical testing /
מאת: Malacara, Daniel
יצא לאור: (1998) -
Optical measurements : techniques and applications /
יצא לאור: (1994) -
Holographic and speckle interferometry : a discussion of the theory, practice, and application of the techniques /
מאת: Jones, Robert
יצא לאור: (1989) -
Holographic and speckle interferometry : a discussion of the theory, practice, and application of the techniques /
מאת: Jones, Robert, 1946-
יצא לאור: (1989)