Lataa...

Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Servin, Manuel
Muut tekijät: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: Germany Wiley-VCH 2014
Aiheet:

Samankaltaisia teoksia