Nalaganje...

Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Servin, Manuel
Drugi avtorji: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: Germany Wiley-VCH 2014
Teme:

UL

Podrobnosti zaloge UL
Signatura: 535.241 SER
Kopija Zaloga ni dosegljiva