Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Servin, Manuel
Andere auteurs: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Germany Wiley-VCH 2014
Onderwerpen:
Interferometry
Metrology
Optical measurements
Diffraction patterns

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 535.241 SER
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items