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Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

書目詳細資料
主要作者: Servin, Manuel
其他作者: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
格式: Printed Book
語言:English
出版: Germany Wiley-VCH 2014
主題:
實物特徵
實物描述:xvi, 327p.
ISBN:9783527411528