Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

Библиографические подробности
Главный автор: Servin, Manuel
Другие авторы: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: Germany Wiley-VCH 2014
Предметы:
Interferometry
Metrology
Optical measurements
Diffraction patterns
Описание
Объем:xvi, 327p.
ISBN:9783527411528

Схожие документы