Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Servin, Manuel
Andere auteurs: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Germany Wiley-VCH 2014
Onderwerpen:
Interferometry
Metrology
Optical measurements
Diffraction patterns
Omschrijving
Fysieke beschrijving:xvi, 327p.
ISBN:9783527411528

Gelijkaardige items