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Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

書誌詳細
第一著者: Servin, Manuel
その他の著者: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
フォーマット: Printed Book
言語:English
出版事項: Germany Wiley-VCH 2014
主題:
その他の書誌記述
物理的記述:xvi, 327p.
ISBN:9783527411528