Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Servin, Manuel
Outros autores: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: Germany Wiley-VCH 2014
Subjects:
Interferometry
Metrology
Optical measurements
Diffraction patterns
Descripción
Descrición Física:xvi, 327p.
ISBN:9783527411528

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