Lanean...
Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Beste egile batzuk: | , |
| Formatua: | Printed Book |
| Hizkuntza: | English |
| Argitaratua: |
Germany
Wiley-VCH
2014
|
| Gaiak: |
| Deskribapen fisikoa: | xvi, 327p. |
|---|---|
| ISBN: | 9783527411528 |