Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Servin, Manuel
Otros Autores: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Germany Wiley-VCH 2014
Materias:
Interferometry
Metrology
Optical measurements
Diffraction patterns
Descripción
Descripción Física:xvi, 327p.
ISBN:9783527411528

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