Φορτώνει......

Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Servin, Manuel
Άλλοι συγγραφείς: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
Μορφή: Printed Book
Γλώσσα:English
Έκδοση: Germany Wiley-VCH 2014
Θέματα:
Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:xvi, 327p.
ISBN:9783527411528