Fringe pattern analysis for optical metrology theory, algorithms and applications

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Servin, Manuel
Weitere Verfasser: Quiroga, Antonio J, Padilla, Moises J
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Germany Wiley-VCH 2014
Schlagworte:
Interferometry
Metrology
Optical measurements
Diffraction patterns
Beschreibung
Beschreibung:xvi, 327p.
ISBN:9783527411528

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