Trích dẫn APA

Servin, M., Quiroga, A. J., & Padilla, M. J. (2014). Fringe pattern analysis for optical metrology: Theory, algorithms and applications. Wiley-VCH.

Trích dẫn kiểu Chicago

Servin, Manuel, Antonio J. Quiroga, và Moises J. Padilla. Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms and Applications. Germany: Wiley-VCH, 2014.

Trích dẫn MLA

Servin, Manuel, et al. Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms and Applications. Wiley-VCH, 2014.

Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.