Citace podle APA

Servin, M., Quiroga, A. J., & Padilla, M. J. (2014). Fringe pattern analysis for optical metrology: Theory, algorithms and applications. Wiley-VCH.

Styl Chicago

Servin, Manuel, Antonio J. Quiroga, a Moises J. Padilla. Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms and Applications. Germany: Wiley-VCH, 2014.

Citace podle MLA

Servin, Manuel, et al. Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms and Applications. Wiley-VCH, 2014.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..