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Defect analysis of semiconductor thin films for photovoltaic applications using photo-luminescence and photo-conductivity

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Jayakrishnan, R
Weitere Verfasser: Vijayekumar, K P; guided by
Format: Ph.D Thesis
Sprache:English
Veröffentlicht: Kochi Department of Physics, CUSAT 2008
Schlagworte:

UL

Bestandesangaben von UL
Signatur: 539.216 JAY T
Exemplar Live-Status nicht verfügbar