Fundamentals of modern VLSI devices

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Taur, Yuan
Weitere Verfasser: Ning, TYak H
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cambridge Cambridge University Press 2013
Ausgabe:2nd ed.
Schlagworte:
VLSI - Integrated circuits
Metal oxide semiconductors
Bipolar transistors

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Signatur: 621.3.049.77 TAU
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