Fundamentals of modern VLSI devices

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Taur, Yuan
Otros Autores: Ning, TYak H
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Cambridge Cambridge University Press 2013
Edición:2nd ed.
Materias:
VLSI - Integrated circuits
Metal oxide semiconductors
Bipolar transistors
Descripción
Descripción Física:xxiii, 656p.
ISBN:9781107635715

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