Document analysis and recognition with wavelet and fractal theories

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Tang, Yuan Tan
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Singapore World scientific publishing 2012
סדרה:Series in machine perception and artificial intelligence; V.79
נושאים:
Document imaging system
Fractal wavelets
Pattern recognition

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 004.93'1 TAN
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים