Document analysis and recognition with wavelet and fractal theories

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Tang, Yuan Tan
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Singapore World scientific publishing 2012
Edice:Series in machine perception and artificial intelligence; V.79
Témata:
Document imaging system
Fractal wavelets
Pattern recognition

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 004.93'1 TAN
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost

Podobné jednotky