Document analysis and recognition with wavelet and fractal theories

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Tang, Yuan Tan
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Singapore World scientific publishing 2012
Reeks:Series in machine perception and artificial intelligence; V.79
Onderwerpen:
Document imaging system
Fractal wavelets
Pattern recognition
Omschrijving
Fysieke beschrijving:xv, 356p.
ISBN:9789814401005

Gelijkaardige items