Document analysis and recognition with wavelet and fractal theories

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Tang, Yuan Tan
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: Singapore World scientific publishing 2012
Colección:Series in machine perception and artificial intelligence; V.79
Materias:
Document imaging system
Fractal wavelets
Pattern recognition
Descripción
Descripción Física:xv, 356p.
ISBN:9789814401005

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