Thin film analysis by xray scattering

other_versions_link
Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Birkholz, Mario
Định dạng: eBook
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Wiley 2006
Những chủ đề:
Materials Characterization
Truy cập trực tuyến:http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595

Internet

http://onlinelibrary.wiley.com/book/10.1002/3527607595

UL

Chi tiết quỹ từ UL
Sao chép Trạng thái trực tiếp không khả dụng

Những quyển sách tương tự