Nalaganje...

Fundamental principles of engineering nanometrology

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Leach, Richard K
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: Amsterdam Elsevier 2010
Teme:

UL

Podrobnosti zaloge UL
Signatura: 681.2:620.3 LEA
Kopija Zaloga ni dosegljiva