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Fundamental principles of engineering nanometrology
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Amsterdam
Elsevier
2010
|
| Assuntos: |
UL
| Área/Cota: |
681.2:620.3 LEA |
|---|---|
| Cód. Barras: | Informação em tempo real indisponível |