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Fundamental principles of engineering nanometrology
| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Langue: | English |
| Publié: |
Amsterdam
Elsevier
2010
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| Sujets: |
UL
| Cote: |
681.2:620.3 LEA |
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| Exemplaire | Statut en temps réel indisponible |