Ładuje się......
Fundamental principles of engineering nanometrology
| 1. autor: | Leach, Richard K |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
Amsterdam
Elsevier
2010
|
| Hasła przedmiotowe: |
Podobne zapisy
-
Handbook of surface and nanometrology
od: Whitehouse, David J.
Wydane: (2003) -
Fundamental principles of engineering nanometrology
od: Leach, Richard
Wydane: (2014) -
Fundamentals of nanotechnology
od: Hornyak, Gabor L...[et.al]
Wydane: (2009) -
Engineering precision metrology
od: Gupta, R.C
Wydane: (1979) -
Engineering precision metrology
od: Gupta, R.C
Wydane: (1979)