Wordt geladen...
Fundamental principles of engineering nanometrology
| Hoofdauteur: | Leach, Richard K |
|---|---|
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
Amsterdam
Elsevier
2010
|
| Onderwerpen: |
Gelijkaardige items
-
Handbook of surface and nanometrology
door: Whitehouse, David J.
Gepubliceerd in: (2003) -
Fundamental principles of engineering nanometrology
door: Leach, Richard
Gepubliceerd in: (2014) -
Fundamentals of nanotechnology
door: Hornyak, Gabor L...[et.al]
Gepubliceerd in: (2009) -
Engineering precision metrology
door: Gupta, R.C
Gepubliceerd in: (1979) -
Engineering precision metrology
door: Gupta, R.C
Gepubliceerd in: (1979)