טוען...
Fundamental principles of engineering nanometrology
| מחבר ראשי: | Leach, Richard K |
|---|---|
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Amsterdam
Elsevier
2010
|
| נושאים: |
פריטים דומים
-
Handbook of surface and nanometrology
מאת: Whitehouse, David J.
יצא לאור: (2003) -
Fundamental principles of engineering nanometrology
מאת: Leach, Richard
יצא לאור: (2014) -
Fundamentals of nanotechnology
מאת: Hornyak, Gabor L...[et.al]
יצא לאור: (2009) -
Engineering precision metrology
מאת: Gupta, R.C
יצא לאור: (1979) -
Engineering precision metrology
מאת: Gupta, R.C
יצא לאור: (1979)