Lataa...
Fundamental principles of engineering nanometrology
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Amsterdam
Elsevier
2010
|
| Aiheet: |
UL
| Hyllypaikka: |
681.2:620.3 LEA |
|---|---|
| Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |