Lanean...
Fundamental principles of engineering nanometrology
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Formatua: | Printed Book |
| Hizkuntza: | English |
| Argitaratua: |
Amsterdam
Elsevier
2010
|
| Gaiak: |
UL
| Sailkapena: |
681.2:620.3 LEA |
|---|---|
| Alea | Egoera zuzenean ez dago erabilgarri |