Fundamental principles of engineering nanometrology

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Leach, Richard K
Format: Printed Book
Idioma:English
Publicat: Amsterdam Elsevier 2010
Matèries:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology

UL

Detall dels fons de UL
Signatura: 681.2:620.3 LEA
Còpia Comprovació en temps real no disponible

Ítems similars