Fundamental principles of engineering nanometrology

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Leach, Richard K
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Amsterdam Elsevier 2010
Onderwerpen:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 681.2:620.3 LEA
Kopie Status is onbeschikbaar

Gelijkaardige items