Loading...

Fundamental principles of engineering nanometrology

Bibliographic Details
Main Author: Leach, Richard K
Format: Printed Book
Language:English
Published: Amsterdam Elsevier 2010
Subjects:
LEADER 00634 a2200193 4500
005 20151026133235.0
008 131106b xxu||||| |||| 00| 0 eng d
020 |a 9780080964546 
080 |a 681.2:620.3   |b LEA 
100 |a  Leach, Richard K 
245 |a Fundamental principles of engineering nanometrology 
260 |b Elsevier  |c 2010  |a Amsterdam 
300 |a xxvi, 321p. 
653 |a Nanometrology 
653 |a Nanotechnology 
653 |a Coordinate metrology 
942 |c BK  |6 _ 
999 |c 66068  |d 66068 
952 |0 0  |1 0  |2 udc  |4 0  |6 68126203_LEA  |7 0  |9 78393  |a UL  |b UL  |d 2013-02-16  |g 0.00  |o 681.2:620.3 LEA  |p 00069168  |r 2013-02-16  |v 0.00  |w 2013-02-16  |y BK