Fundamental principles of engineering nanometrology

Библиографические подробности
Главный автор: Leach, Richard K
Формат: Printed Book
Язык:English
Опубликовано: Amsterdam Elsevier 2010
Предметы:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology
Описание
Объем:xxvi, 321p.
ISBN:9780080964546

Схожие документы