Fundamental principles of engineering nanometrology

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Leach, Richard K
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: Amsterdam Elsevier 2010
Assuntos:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology
Descrição
Descrição Física:xxvi, 321p.
ISBN:9780080964546

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