Fundamental principles of engineering nanometrology

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Leach, Richard K
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Amsterdam Elsevier 2010
Onderwerpen:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology
Omschrijving
Fysieke beschrijving:xxvi, 321p.
ISBN:9780080964546

Gelijkaardige items