Fundamental principles of engineering nanometrology

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Leach, Richard K
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Amsterdam Elsevier 2010
נושאים:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology
תיאור
תיאור פיזי:xxvi, 321p.
ISBN:9780080964546

פריטים דומים