Fundamental principles of engineering nanometrology

Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Leach, Richard K
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado: Amsterdam Elsevier 2010
Subjects:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology
Descripción
Descrición Física:xxvi, 321p.
ISBN:9780080964546

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