Fundamental principles of engineering nanometrology

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Leach, Richard K
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Amsterdam Elsevier 2010
Gaiak:
Nanometrology
Nanotechnology
Coordinate metrology
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:xxvi, 321p.
ISBN:9780080964546

Antzeko izenburuak