APA Citatie

Leach, R. K. (2010). Fundamental principles of engineering nanometrology. Elsevier.

Chicago Style citaat

Leach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Amsterdam: Elsevier, 2010.

MLA citatie

Leach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Elsevier, 2010.

Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.