Leach, R. K. (2010). Fundamental principles of engineering nanometrology. Elsevier.
Čikaški stil citiranjaLeach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Amsterdam: Elsevier, 2010.
MLA način citiranjaLeach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Elsevier, 2010.
Upozorenje: Ovi citati možda nisu uvijek 100% točni.