Leach, R. K. (2010). Fundamental principles of engineering nanometrology. Elsevier.
Chicago-tyylinen lähdeviittausLeach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Amsterdam: Elsevier, 2010.
MLA-viiteLeach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Elsevier, 2010.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.