Leach, R. K. (2010). Fundamental principles of engineering nanometrology. Elsevier.
Παραπομπή Chicago StyleLeach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Amsterdam: Elsevier, 2010.
Παραπομπή MLALeach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Elsevier, 2010.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.