Leach, R. K. (2010). Fundamental principles of engineering nanometrology. Elsevier.
استشهاد بنمط شيكاغوLeach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Amsterdam: Elsevier, 2010.
MLA استشهادLeach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Elsevier, 2010.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.