APA استشهاد

Leach, R. K. (2010). Fundamental principles of engineering nanometrology. Elsevier.

استشهاد بنمط شيكاغو

Leach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Amsterdam: Elsevier, 2010.

MLA استشهاد

Leach, Richard K. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. Elsevier, 2010.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.