Nalaganje...

Software metrics and software metrology

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Abran, Alain
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: New Jersey John Wiley & Sons 2010
Serija:IEEE computer society
Teme:

UL

Podrobnosti zaloge UL
Signatura: 004.412 ABR
Kopija Zaloga ni dosegljiva