Lanean...

Software metrics and software metrology

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Abran, Alain
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: New Jersey John Wiley & Sons 2010
Saila:IEEE computer society
Gaiak:
Search Result 1
nork Abran, Alain
Argitaratua 2010
Printed Book