Wordt geladen...
Software metrics and software metrology
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
New Jersey
John Wiley & Sons
2010
|
| Reeks: | IEEE computer society
|
| Onderwerpen: |
| Fysieke beschrijving: | xix, 328p. |
|---|---|
| ISBN: | 9780470597200 |