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Software metrics and software metrology

書誌詳細
第一著者: Abran, Alain
フォーマット: Printed Book
言語:English
出版事項: New Jersey John Wiley & Sons 2010
シリーズ:IEEE computer society
主題:
その他の書誌記述
物理的記述:xix, 328p.
ISBN:9780470597200